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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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奧林巴斯olympus 45MG 超聲波測厚儀測量那些受到了腐蝕或侵蝕的管道、管子、箱體、壓力容器、船體外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度，在這些應(yīng)用中通常使用雙晶探頭，45MG測厚儀使用單晶探頭可以準(zhǔn)確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供多種頻率、直徑和連接器樣式的單晶探頭
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-03-06訪 問 量：361
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奧林巴斯olympus 45MG是一款配備有標(biāo)準(zhǔn)測量功能和軟件選項(xiàng)的高級超聲測厚儀。45MG超聲波測厚儀具有特色的儀器與奧林巴斯的所有雙晶和單晶測厚探頭相兼容，是一款集多種解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。
提供基本配置的45MG超聲波測厚儀是一款簡單易學(xué)的測厚儀，操作人員只需少量的培訓(xùn)，就可以處理大多數(shù)常見的測厚應(yīng)用。不過，添加了可選購軟件選項(xiàng)和探頭之后的45MG儀器，就會變成一款非常先進(jìn)的測厚儀，可以進(jìn)行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
與所有奧林巴斯雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕金屬的厚度進(jìn)行測量
最小值/最大值模式
兩個報警模式
差值模式
時基B掃描
縮減率
增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低）
通過密碼鎖定儀器
堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
振動測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
寬泛的操作溫度范圍
可選購帶有支架的橡膠保護(hù)套
簡潔的鍵區(qū)，只用單手（左手或右手）即可操控儀器
瀏覽方便的用戶界面，可直接訪問大多數(shù)功能
內(nèi)置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡的存儲方式
USB通信端口
可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選購）
通過密碼保護(hù)方式鎖定儀器
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有很高的清晰度
只需幾次按鍵，即可完成從簡單的腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供5個需密碼激活的軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層（THRU-COAT）：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，兩種厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測量時，無需去掉材料表面上的漆層或涂層。
單晶：這個選項(xiàng)可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測量。這個選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項(xiàng)可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測量?？膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時A掃描：用戶使用這個可選配實(shí)時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大幅增強(qiáng)測量性能。這個有益的選項(xiàng)包含手動增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲等參數(shù)。
測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔 |
回波到回波（可選） | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度 | |
穿透涂層測量（可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭） | |
單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔 | |
厚度范圍 | 0.080 mm ～ 635 mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量整個厚度范圍需要使用單晶選項(xiàng)） | |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs ～ 18.699 mm/μs | |
分辨率（可選） | 低分辨率：0.1 mm | |
探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz ～ 30 MHz（-3 dB）；高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz ～ 30 MHz（-3 dB） | |
一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C ～ 50 °C |
鍵區(qū) | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵區(qū)，帶有觸感及聲音反饋 | |
機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。 設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 | |
外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 總體尺寸：91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
電源供應(yīng) | 3節(jié)AA電池 / USB電源供應(yīng) | |
電池供電時間 | 3節(jié)AA堿性電池：20 ～ 21小時 | |
標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn) | |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 × 41.15毫米 |
檢波 | 全波、射頻波、正半波、負(fù)半波（波形選項(xiàng)） | |
輸入/輸出 | USB | 2.0客戶端 |
存儲卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形 | |
文件名、ID編碼和注釋 | 不超過32個字符的文件名，不超過20個字符的字母數(shù)字位碼，每個位有4個注釋。 | |
文件結(jié)構(gòu) | 6個標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) | |
報告 | 機(jī)載報告，總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/最大值 |
45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受到了腐蝕或侵蝕的管道、管子、箱體、壓力容器、船體外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。在這些應(yīng)用中通常使用雙晶探頭。
用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測量帶有漆層和涂層的表面
高溫測量：可測量溫度高達(dá)500 °C的材料
45MG測厚儀所提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用，因?yàn)榭捎^察到材料的厚度值隨著探頭的移動而發(fā)生的變化。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)最小值功能用于顯示已掃查區(qū)域的最小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器最多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。
45MG測厚儀配上D790系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達(dá)500 oC）的理想選擇，可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測量的準(zhǔn)確性。
回波到回波
測厚儀通過使用多重底面回波，顯示不計涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：
自動回波到回波
手動回波到回波（僅用于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：
增益調(diào)整
擴(kuò)展空白
回波空白
穿透涂層技術(shù)
| 使用單個底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度，兩種厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬材料的厚度，無需去掉其表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
使用單晶探頭：
使用單晶探頭可以準(zhǔn)確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供多種頻率、直徑和連接器樣式的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項(xiàng)。
在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，單晶軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
高穿透軟件選項(xiàng)用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料
測量厚度、聲速或渡越時間
自動調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作
單晶軟件選項(xiàng)
使用單晶軟件選項(xiàng)可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米的精確厚度測量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容?？蓽y量以下材料和產(chǎn)品：
大多數(shù)薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管子、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米的金屬容器、鋼卷材、機(jī)加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
曲面部位或內(nèi)圓角半徑較小的容器
單晶高穿透軟件選項(xiàng)
用戶使用這個選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
大多數(shù)較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料
厚金屬鑄件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲罐
復(fù)合材料板
對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡化了厚度測量操作。選擇了任何一個存儲的探頭后，45MG測厚儀就會調(diào)出與這個探頭相關(guān)的所有內(nèi)置參數(shù)。 存儲的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置 45MG儀器帶有21個標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置，可完成常見的應(yīng)用。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測量應(yīng)用。 存儲的自定義設(shè)置 45MG還可存儲最多35個自定義單晶探頭的設(shè)置，包括校準(zhǔn)信息。您可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測量，甚至是在非常困難的應(yīng)用中。 | 材料聲速測量45MG儀器可以測量材料的聲速。在材料聲速與其他屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)測鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)測復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。 縮減率測量 差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異?？s減率計算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的鋼板進(jìn)行的縮減率測量是一個典型的應(yīng)用。 奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套裝：
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測厚儀軟件選項(xiàng)：
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