美國(guó)Dakota NDT CMX 腐蝕超聲波測(cè)厚儀系列易于使用，為檢查人員提供同時(shí)測(cè)量材料和涂層厚度所需的所有功能。
聰明的
用戶可定義通過(guò)/失敗指示的限制
通過(guò)聲音和視覺(jué)警告，為單個(gè)讀數(shù)或每批的通過(guò)/失敗指示設(shè)置限制。
強(qiáng)大的
存儲(chǔ)每個(gè)測(cè)量值以供進(jìn)一步分析
每次測(cè)量時(shí)，儀器內(nèi)存中最多可保存 4GB 讀數(shù)，稍后可將其下載到檢測(cè)應(yīng)用程序或 DakMaster ™軟件中以進(jìn)行進(jìn)一步分析和報(bào)告。
多才多藝的
能夠測(cè)量涂層和材料厚度
Dakota CMX 超聲波測(cè)厚儀能夠同時(shí)測(cè)量涂層和材料厚度，同時(shí)保持定位材料中的凹坑、瑕疵和缺陷的能力。
可定制
選擇并自定義閱讀顯示
Dakota NDT CMX 測(cè)厚儀系列有多種顯示模式可供選擇，允許用戶選擇適合自己需求的模式； Dakota CMX2-DL 腐蝕測(cè)厚儀和 Dakota CMX3-DL 腐蝕測(cè)厚儀上的讀數(shù)、B 掃描、B 掃描與讀數(shù)、掃描條和 A 掃描相結(jié)合。
Dakota NDT CMX 腐蝕超聲波測(cè)厚儀概括：
Dakota NDT CMX 超聲波腐蝕測(cè)厚儀有四種型號(hào) - 從入門級(jí) Dakota CMX1 超聲波測(cè)厚儀到頂級(jí) Dakota CMX3-DL 超聲波測(cè)厚儀。
顯示和測(cè)量選項(xiàng)范圍：脈沖回波、回波-回波、脈沖-回波溫度、補(bǔ)償模式 (PETP)、僅涂層模式 (CT)、脈沖回波涂層模式 (PECT)
手動(dòng)或自動(dòng)增益控制 (AGC)，可調(diào)范圍 110dB
門控
閾值調(diào)整
64 個(gè)用戶定義的設(shè)置
多語(yǔ)言顯示
多種校準(zhǔn)和材料選擇選項(xiàng)
高速掃描模式：每秒 250 個(gè)讀數(shù)（Dakota CMX1 超聲波測(cè)厚儀和 Dakota CMX1-DL 超聲波測(cè)厚儀），每秒 50 個(gè)讀數(shù)（Dakota CMX2-DL 超聲波測(cè)厚儀和 Dakota CMX3-DL 超聲波測(cè)厚儀）
A 掃描縱向和橫向視圖（僅限 Dakota CMX3-DL 超聲波測(cè)厚儀）
差異和最小厚度報(bào)警模式
數(shù)據(jù)輸出和存儲(chǔ)：4GB內(nèi)存
下載 DakMaster ™數(shù)據(jù)管理軟件
Dakota CMX 腐蝕超聲波測(cè)厚儀主要特點(diǎn)：
Dakota CMX 功能解釋
重復(fù)性/穩(wěn)定性指示器
由6個(gè)垂直條組成，當(dāng)所有條都照亮并且數(shù)字厚度值的最后一位穩(wěn)定時(shí)，儀表可以可靠地測(cè)量材料厚度。
差模
一旦設(shè)置了用戶定義的標(biāo)稱厚度值，儀表將顯示與輸入的標(biāo)稱值的+/-厚度差。
具有最小厚度顯示的高速掃描
通過(guò)顯著提高測(cè)量刷新率，該模式允許用戶對(duì)測(cè)試材料進(jìn)行掃描。最小厚度值保存在內(nèi)存中，并在掃描完成時(shí)顯示。此功能還可以與最小和最大限制報(bào)警功能結(jié)合使用（取決于型號(hào)）。
極限報(bào)警方式
用戶可以定義最小和最大厚度限制。如果測(cè)量值超出上限或下限，紅色 LED 將會(huì)亮起，并且蜂鳴器會(huì)發(fā)出聲音。綠色 LED 將亮起，表示厚度可接受。
V 路徑校正
雙元件傳感器由帶有兩個(gè)晶體的探頭組成（一個(gè)用于發(fā)射，一個(gè)用于接收聲音脈沖）。這些晶體被聲屏障隔開(kāi)，當(dāng)聲音從一個(gè)元件傳播到另一個(gè)元件時(shí)，會(huì)產(chǎn)生“V 形"聲音路徑。該路徑比直接路徑稍長(zhǎng)，因此使用 V 路徑校正來(lái)計(jì)算正確的厚度
測(cè)量模式解釋
脈沖-回波模式 (PE)：
正常顯示模式測(cè)量從傳感器探頭底部到材料密度邊界（通常是后壁）的總厚度。非常適合凹坑和缺陷檢測(cè)。
脈沖 - 回波溫度補(bǔ)償模式 (PETP)：
與 PE 模式類似，PETP 會(huì)考慮并補(bǔ)償由溫度變化引起的測(cè)量變化。
僅涂層模式 (CT)：
顯示應(yīng)用于材料的涂層厚度。
基本缺陷模式（FLAW MODE）：
CMX2-DL 和 CMX3-DL 腐蝕測(cè)厚儀可使用單元件角束傳感器進(jìn)行基本的探傷探傷檢測(cè)。
回聲 - 回聲模式 (EE)：
EE 也稱為 ThruPaint™ 模式，忽略涂層厚度，顯示從材料頂面到材料密度邊界的材料厚度。
回波 - 回波驗(yàn)證模式 (EEV)：
回波-回波驗(yàn)證模式通過(guò)比較 3 次反射之間的值進(jìn)行測(cè)量，通常用于消除表面涂層的誤差以及在多層材料中進(jìn)行測(cè)量。
脈沖-回波涂層模式 (PECT)：
同時(shí)顯示材料厚度（PE）和涂層厚度（CT）。
顯示模式解釋
材料厚度數(shù)字顯示：
所有型號(hào)上的標(biāo)準(zhǔn)顯示屏，以毫米 (MM) 或英寸 (IN) 為單位顯示數(shù)字厚度值。
掃描條顯示：
線性圖形顯示器允許用戶以圖形方式監(jiān)控厚度讀數(shù)的變化。由于用戶可以調(diào)整刻度范圍，因此該顯示器非常適合觀察材料厚度的微小變化。
B 掃描顯示：
基于時(shí)間的厚度橫截面 2D 框圖提供了材料厚度的圖形視圖 - 非常適合相對(duì)深度分析。
A 掃描顯示；全波（射頻）： *
A 掃描顯示屏顯示由被測(cè)材料反射的聲音或振動(dòng)產(chǎn)生的正弦波。在 RF 模式下，顯示完整波形。
A 掃描顯示；糾正（+或-）： *
用戶可以選擇查看完整波形 (RF) 的正周期或負(fù)周期。該校正 (RECT) 顯示顯示回波幅度與傳播時(shí)間的關(guān)系。
* 僅適用于 CMX2-DL 和 CMX3-DL 測(cè)厚儀型號(hào)
技術(shù)參數(shù)：
模型 | CMX1 | CMX1-DL | CMX2-DL | CMX3-DL |
顯示模式 |
材料厚度數(shù)字顯示 | * | * | * | * |
B 掃描橫截面顯示 | * | * | * | * |
結(jié)合 B 掃描和數(shù)字顯示 | * | * | * | * |
涂層厚度顯示 | * | * | * | * |
掃描條顯示 | * | * | * | * |
A 掃描顯示 |
|
| + 整流、- 整流、全波形 (RF) | + 整流，- 整流，全波形 (RF) 縱向和橫向視圖 |
測(cè)量范圍 | PE: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PETP: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
EE: 2.54 - 152.4mm
(0.100 - 6.0“)
EEV: 1.27 - 25.4mm
(0.050 - 1.0")
CT: 0.01 - 2.54mm
(0.0005 - 0.100")
PECT: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PECT: 0.01 - 2.54mm
(0.001 - 0.100") | PE: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PETP: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
EE: 2.54 - 152.4mm
(0.100 - 6.0“)
EEV: 1.27 - 25.4mm
(0.050 - 1.0")
CT: 0.01 - 2.54mm
(0.0005 - 0.100")
PECT: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PECT: 0.01 - 2.54mm
(0.001 - 0.100") | PE: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PETP: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
EE: 2.54 - 152.4mm
(0.100 - 6.0“)
EEV: 1.27 - 25.4mm
(0.050 - 1.0")
CT: 0.01 - 2.54mm
(0.0005 - 0.100")
PECT: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PECT: 0.01 - 2.54mm
(0.001 - 0.100") | PE: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PETP: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
EE: 2.54 - 152.4mm
(0.100 - 6.0“)
EEV: 1.27 - 25.4mm
(0.050 - 1.0")
CT: 0.01 - 2.54mm
(0.0005 - 0.100")
PECT: 0.63 - 1219.2mm
(0.025 - 48")
PECT: 0.01 - 2.54mm
(0.001 - 0.100") |
|
|
|
|
|
測(cè)量速率 |
手動(dòng)的 | 每秒 8 個(gè)讀數(shù) | 每秒 8 個(gè)讀數(shù) | 每秒 8 個(gè)讀數(shù) | 每秒 8 個(gè)讀數(shù) |
掃描模式 | 每秒 250 個(gè)讀數(shù) | 每秒 250 個(gè)讀數(shù) | 每秒 50 個(gè)讀數(shù) | 每秒 50 個(gè)讀數(shù) |
掃描條顯示 | 每秒 10 個(gè)讀數(shù) | 每秒 10 個(gè)讀數(shù) | 每秒 10 個(gè)讀數(shù) | 每秒 10 個(gè)讀數(shù) |
測(cè)量分辨率 | 0.01 毫米（0.001 英寸） | 0.01 毫米（0.001 英寸） | 0.01mm (0.001"), 0.001mm (0.0001") 可選 | 0.01mm (0.001"), 0.001mm (0.0001") 可選 |
速度校準(zhǔn)范圍 | 309.88 - 18,542m/s
（0.0122 - 0.7300 英寸/微秒） | 309.88 - 18,542m/s
（0.0122 - 0.7300 英寸/微秒） | 309.88 - 18,542m/s
（0.0122 - 0.7300 英寸/微秒） | 309.88 - 18,542m/s
（0.0122 - 0.7300 英寸/微秒） |
附加功能 |
高速掃描模式 |
|
|
| * |
差模 |
|
|
| * |
限位報(bào)警方式 |
|
|
| * |
B 掃描顯示速度 | 每秒 15 個(gè)讀數(shù) | 每秒 15 個(gè)讀數(shù) | 每秒 15 個(gè)讀數(shù) | 每秒 10 至 200 個(gè)讀數(shù) |
缺陷模式 |
|
| 使用單元件角束傳感器進(jìn)行基本探傷探傷 | 使用單元件角束傳感器進(jìn)行基本探傷探傷 |
校準(zhǔn)設(shè)置 |
|
|
| 64 個(gè)用戶可定義的設(shè)置可在 PC 存檔之間傳輸 |
蓋茨 |
|
| 3 個(gè)可調(diào)的門：開(kāi)始、停止、寬度和閾值 | 3 個(gè)可調(diào)的門：開(kāi)始、停止、寬度和閾值 |
減震 |
|
| 可調(diào)阻尼（50 - 1500 歐姆） | 可調(diào)阻尼（50 - 1500 歐姆） |
脈沖發(fā)生器類型 | 雙方波脈沖發(fā)生器
脈沖重復(fù)頻率高達(dá) 250Hz | 雙方波脈沖發(fā)生器
脈沖重復(fù)頻率高達(dá) 250Hz | 雙方波脈沖發(fā)生器
脈沖重復(fù)頻率高達(dá) 250Hz | 雙方波脈沖發(fā)生器
脈沖重復(fù)頻率高達(dá) 250Hz |
獲得 | 手動(dòng)或自動(dòng)增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限） | 手動(dòng)或自動(dòng)增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限） | 手動(dòng)、自動(dòng)增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限），線性時(shí)間相關(guān)增益 (TDG)，斜率可調(diào) | 手動(dòng)、自動(dòng)增益控制 (AGC)，范圍 110dB（有限），線性時(shí)間相關(guān)增益 (TDG)，斜率可調(diào) |
定時(shí) | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時(shí)，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數(shù)字化儀 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時(shí)，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數(shù)字化儀 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時(shí)，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數(shù)字化儀 | 精密溫控晶體振蕩器 (TCXO) 定時(shí)，具有單次 100MHz 8 位超低功耗數(shù)字化儀 |
內(nèi)存和數(shù)據(jù)記錄 | • 4GB 內(nèi)存
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